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法國LAMTECH用于精加工表面干涉儀 SPI 75選購指南
更新時(shí)間:2022-10-27   點(diǎn)擊次數(shù):755次

 

法國LAMTECH用于精加工表面的目視檢查干涉儀 SPI 75

 

公司簡介:赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng)法國LAMTECH干涉儀 SPI 75,德國總部直接采購,近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品,支持選型,為您提供一對一好的解決方案:貨期穩(wěn)定,快速報(bào)價(jià),優(yōu),設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)法國LAMTECH干涉儀 SPI 75

 

產(chǎn)品屬性:SPI 視覺檢測儀器允許對研磨、研磨或拋光表面進(jìn)行平面度檢查。平面度測量儀一樣,SPI干涉儀也是基于光的掠入射原理法國LAMTECH干涉儀 SPI 75。因此,對于無光澤的測試對象,SPI 干涉條紋是可見的。在使用 SPI 檢查之前,不必對零件進(jìn)行拋光。SPI 可提供 75 和 130 毫米的測量范圍。此外,我們還提供具有增強(qiáng)靈敏度的 SPI-xs。靈敏度設(shè)置為 0.3 µm/條紋,這對應(yīng)于使用光學(xué)平面和氦燈或鈉燈進(jìn)行測量的靈敏度法國LAMTECH干涉儀 SPI 75。

 

主要產(chǎn)品:激光平面度測量儀SP,I目視檢查干涉儀法國LAMTECH干涉儀 SPI 75

 

產(chǎn)品應(yīng)用: SPI干涉儀用于零件的視覺平面度檢查 Lamtech Lasermesstechnik 提供干涉儀,用于對精加工零件進(jìn)行視覺平面度檢查。 為了評估測試對象,將零件放置在 SPI 的玻璃表面上。部分和邊緣比在放大呈現(xiàn)。平面度的評估是基于對顯示的干涉條紋的直線度、平行度和等距的解釋進(jìn)行的。 干涉儀適合放置在靠近加工機(jī)器的生產(chǎn)區(qū)域。 法國LAMTECH干涉儀 SPI 75程序 INTDOK (更多) 或打印機(jī)可以記錄零件的平整度。 目視檢查干涉儀 SPI – 用于精加工表面的目視平面度檢查 配飾提供可選的靈敏度標(biāo)準(zhǔn),用于常規(guī)控制 SPI 視覺檢查干涉儀的正確靈敏度設(shè)法國LAMTECH干涉儀 SPI 75

 

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